제품소개

자동화장비Automation Equipment Section

Automation Equipment

No Item Description
1 Wafer Bonding System Anodic Bonder / Thermal Bonder / Eutectic Bonder
2 Wafer Aligner Full Auto Aligner / Manual Aligner
3 Flip Chip Loader Tray to Boat / Boat to Tray
4 2D Code Laser Marking & Strip Mapping System Green, IR, CO2 type & Die Reject Mark Inspection
5 Wafer Inspection System Sensor Chip , Solder Bump Pattern Ball Inspection
6 Handler Series On,Off loader / Diverter / NG Buffer / Link System
7 Tape & Reel System -
8 ESD Checker -
9 Capillary & Gold wire Provider -

TRANSLATION HANDLER

EP2000

CIS chip 자동화 솔루션
CIS Chip Automation Testing Solution

16Sites 기능실행 、광원 조절
Support 16Sites, adjustable light source
단가 절감 ,신제품 Change KIT (ATE + Handler)도입
Low cost and fast new product change kit (ATE + Handler) import
제품 테스트 프로그램 구축, 검증 도입 지원
Support product test program
FSE+AE현장 지원
FSE + AE field support
보안, 휴대폰, 소비형 전자 제품 CIS 검사
Support security, mobile phone, consumer electronics related CIS testing
CIS Chip 제품 검사 업체 양산 도입
It has been widely used in CIS packaging test leading enterprises
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Handler EP2000 + E06 자동화 솔루션
E06 + Handler EP2000 automatic testing solution

EP3000

SLT chip 자동화 솔루션
SLT Chip Automatic Testing Solution

128 Sites 기능 실행
Support up to 128 Sites
생산율:UPH<10K (T.T.<30s)
High throughput: UPH<10K (T.T.<30s)
비율:Jam Rate>1/5000
High stability: Jam Rate>1/5000
제품 사이즈:2mmx2mm
Min. size: 2mm x2mm
QR 코드 ,문자 및 chip 방향 인식 기능 구현
Support 2D code, OCR and chip front and back identification
SECS/GEM 소프트웨어 및 분석 기능 구현
Support SECS/GEM and complete software analysis tools
PXIe Tester 자동화 솔루션,고객 맟춤형 Tester 지원
Support PXIE Tester solutions and customized testers
SiP 국내외 기업 양산 도입
Deployed in Mass Production line of the Leading SiP Manufacturer
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Handler EP3000 + PXIe 자동화 솔루션
Handler + PXIe all-in-one platform automatic testing solution

TEMPORARY BONDING/DEBOUNDING

HTB-300R

자동화 본딩 솔루션
Automatic Wafer Temporary Bonding Equipment

200mm/300mm 웨이퍼 사용
Applicable to 200mm/300mm wafer
개방형 접착제플랫폼
Open adhesive platform
다용 캐리어 웨이퍼 적합
Applicable to multiple carrier wafers
접착제 다중 배합 제어 시스템
Multiple recipes control system for adhesive
공정 매개변수 실시간 모니터링 및 기록 기능 구현
Real time monitoring and recording of all relevant process parameters
SECS/GEM 포트 기능구현
Fully integrated SECS/GEM interface
확장 가능한 생산량과 최소 점유 공간 모듈화 설계
Modular design with scalable production capacity and minimal space
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TURRET HANDLER

ET20

자동화 회전 핸들링
Turret Automatic Testing Equipment

UPH는 40K이상 (Tester time check 따라 다름)
Up to 40K UPH
MTBA는 1시간 이상
MTBA≥1H
설비 기능:고속안정적인 공급 시스템, 6면 전방위 검사를 위한 비전 시스템, 레이저 프린팅 시스템 , 고정밀 위치 측정 테스트 스테이션, 안정적인 제품 인장력 공급 시스템
Function:high speed feeding,6 side vision inspection,integration laser,precision test station,stable peel force taping
상용제품 범위:SOIC,SOT,MEMS,QFN,DFN,LED 등 응용가능
Wide product range of application, Discrete:SOIC,SOT,MEMS; Leadless:QFN,DFN,LED
다른 유형의 제품간 전환이 빠르다
Different types of products can be switched flexibly
소프트웨어 모듈화된 구성은 고객 맞춤형 요구를 만족하며 타이머는 0.1μs까지 정확하며 소프트웨어 실행 효율이 높다.
Friendly and flexible user interface, modular configuration to meet customer customization requirements, timer accurate to 0.1μs, high efficiency of software execution
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ET32-6S

6면 비전 검사 자동화 회전 핸들링
Six-side Inspection Automatic Taping Equipment

최고UPH 15K
Max. UPH 15K
Tray in 방식 칩 2차 손상을 효율적으로 방지
Trail in method can effectively avoid the secondary damage of the chip
비전 검사 시스템 직렬로 실행 구현
The task of visual inspection system is serial operation
AI 알고리즘과 전통 알고리즘을 결합하여, 검출 속도가 빠르고 정확도가 높으며 , 오차 파단율이 낮다.
The combination of AI algorithm and traditional algorithm has the advantages of fast detection speed, high detection accuracy, high detection efficiency and low misjudgment rate
OCR/QR 코드 인식가능 ,각면의 결함 검출 시스템 구현
Realize OCR / QR code reading, including defect types of all surfaces
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