제품소개

PRODUCT

테스트 검사장비 Test System

OPTICAL INSPECTION

Gemini M1000

웨이퍼 결함 검사 (AOI)자동화 검사기
Wafer Macro Inspection System

가변식 구조 알고리즘은 다형태 웨이퍼 변화에 유연하게 대응구현: Variable structure algorithm to solve flexible corresponding to polymorphic wafer changes
전배율 통합 자동초점기능 실현 100배 이미지 확대 검사 구현: Full magnification integrated autofocus capability supports 100x magnification imaging
결함 자동 분류 검사는 인건비 절감: Automatic classification of defects instead of manual classification effectively reduces labor cost
다양성 환경이미지 광원모드 지원,분할 제어 BF및 DF 구현: Support multi-scene imaging light source mode, frequency control BF and DF
검출력 99%，검출정밀도0.1um: The detection rate reached 99%, the detection accuracy was 0.1um
고단차 고주파 전환 기능 구현: High step difference high frequency switching capability
고동적 이미지，고회색조 차이 이미지 동일 채집 기능 구현: High dynamic imaging, meet the high gray scale difference image with frequency acquisition ability
HR영상 검사기능으로 고수율 달성: Large field HR imaging, high productivity

SoC TEST SYSTEM

T7600 시스템

SoC검사 장비 –모듈화 ,다양성 ,확장 가능한 자체개발 SoC검사기 플랫폼
SoC Chip Testing Equipment--Modular, universal and extensible self-developed SoC test platform

T7600S
S시리즈 6 slots
768 Channels 72 DPS

T7600M
M시리즈 12 slots
1536 Channels 144 DPS

T7600H
H시리즈 18 slots
2304 Channels 1216 DPS

T7600시스템-Card

DP128 디지털 Card

128 PPMU & PE: Pattern Data Rate: 400Mbps
min period 2.5ns Vector Memory: 512M/1024M [OPT]
Per-pin PMU : -2~+6.5V
Per-pin TMU : 0~400MHz
12 DPS: -2 ~ 7V
1.2A MAX
Ganged to 4.8A MAX
4 BPMU: MV ±10V Range，±1mV Accuracy
4 RVS: FV ±8V Range，±1mV Accuracy

MX32 아날로그 Card

32아날로그 Card: Channels: 32 Mix signal
고속HS : 0~250MHz, 고정밀HR : 0~40KHz, 고주파 THD -115dB
다중 CH 배치 가능-3 normal configuration: 16 HS AWG+16 HS DIG
16 HR AWG+16 HR DIG
8 HS AWG + 8 HS DIG + 8 HR AWG+8 HR DIG

FVI32 유동전압 Card

최고 32 CH 가능: Support up to 32 channels
전압범위Voltage range ：±10V
전압정밀도Voltage accuracy ：≤±0.5mV
최고 전률MAX current ：38.4A（1.2A/channel）
전압 CH 병열연결 측정가능Support Gang

DPS64 전압 Card

최고 64 CH 가능: Support up to 64 channels
전압범위Voltage Range ： -2.5~8V
전류수출Current output ：1.5A/channel
병열 전류Gang：96A

E06

E06 검사기 솔루션
E06 Testing Solution

CMOS Image Sensor검사기，E06-01선택 가능（최대 6보드 구성 지원） 및 E06-02（ 최대 12보드 구성 지원 ）: CMOS Image Sensor Automatic test equipment, two tester options, E06-01(Max support 6 digital cards) and E06 -02(Max support 12 digital cards)
FT검사 및 CP검사시 사용 적합: Fit for Final test and CP test
한장디지털 Card 96ch 사용 및 PMU는 16ch 사용: Per digital card supports 96 channels PMU and 16 channels DPS
디지털 Card 이미지 up down load 기능 내장 ，MIPI 1.5Gbps/2.5Gbps및 DVP (100Mhz) CIS 신호 읽기 기능 내장: The digital card Integrated image capture function, MIPI rate supports 1.5 Gbps/2.5 Gbps, DVP supports 100 MHZ
한장디지털 Card 20 MiPi Lanes(16 data lanes+4 clock lanes) 4site DVP CH: Per Card provides 20 MiPi Lanes(16 data Lanes + 4 clock Lanes))and four groups of DVP channel
컨트롤러와 ATE는 8 Lanes PXIe 3.0 Tx/Rx, 64Gbps 전송률, CIS image 전송: Controller and ATE data transmits by 8 Lanes PXIe 3.0Tx /Rx, 64Gbps ,perfectly fit the CIS image transmission

디지털 및 전앞 Card

64 Master PE & PPMU: Max Clock Rate : 200MHz
Max Data Rate : 400MHz
Voltage Ranges : -2~+6.5V
32 Slave PPMU
16 DPS: Max Output Current : 512ma per channel, Gangable to 4A

PXIe TEST SYSTEM

PXIe

PXIe 검사 솔루션
PXIe Platform Testing Solution

PXIe기반 소형 검사 솔루션: Miniaturized Tester Platform Based on PXIe Architecture
높은 성능 ，다양성 기능 구현 ；: Extremely high cost performance, comparable to high-end manufacturers
디지털·전원·아날로그·주파수 등 멀티보드 카드의 연구개발과 양산 완료；: Digital cards, power cards, analog cards and RF cards have reached mass production
지속적인 연구개발로 매년 5개 이상의 보드카드 양산；: Maintain continuous R&D and mass production of more than 5 products every year
국내 국외 반도체 양산 SiP、ADC、PMIC、Audio 검증완료: Recognized by international major manufacturers and stably mass produced in SiP, ADC, PMIC, Audio and other chip types

TS1800

RF Chip 검사기
RF Chip Testing Equipment

PXIe 검사기 기반 무선주파수 테스트 장비: RF test equipment based on PXIe tester
검사 주파수 최고 6GHz，공률출력 35dBm: Test frequency up to 6GHz, power up to 35dBm
SPI、MIPI및 사용자 디지털 라이브러리: Support SPI, MIPI and custom digital communication libraries
소음계수 측정: Y인자법과 냉원법 지원: Noise Figure measurement: Support Y-Factor and Cold Noise methods
32개의 양방향 무선 주파수 포트, 고출력 8진 8출: 32 bidirectional RF ports with 8 input and 8 output for high power
국내 반도체 1위 기업 도입 안정적 양산: Domestic chip leading enterprises stable mass production